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ROHS无卤测试仪、X荧光光谱仪、XRF分析仪、天瑞ROHS检测仪

ROHS无卤测试仪、X荧光光谱仪、XRF分析仪、天瑞ROHS检测仪

江苏天瑞仪器股份有限公司
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EDX4500H合金分析仪

 X射线荧光光谱法元素分析仪是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究,是江苏天瑞仪器股份有限公司的主营产品之一。以下内容主要介绍X射线荧光光谱法元素分析仪分析工作中的共元素干扰。
    X射线荧光光谱法元素分析仪的原理基于原子受到X射线的作用,其内层电子被激发,形成空穴,原子处于不稳定的激发态。为了回到稳态,原子的外层电子会跃迁回内层,多余的能量以荧光形式释放出来,被侦测器检测到,通过此来做分析。通常,可以将X射线荧光光谱分析仪可分为波长色散性和能量色散性。X射线荧光光谱法元素分析仪在日常的分析工作中,XRF这种分析方法经常会出现共元素干扰。这种共元素干扰的问题主要起源于X荧光射线侦测器对于X荧光射线的分辨率的限制所致,只要是XRF都会遭遇到相同的问题。共元素干扰主要分为三类:两相近共元素干扰、逃离波峰、加乘波峰。

    1、两相近共元素干扰

    由于两元素在能谱图上的位置相近,以至于侦测器无法分别出两者之间的差距。如铅(La10.55Kev)、砷(Ka10.54Kev)。

    2、逃离波峰

    由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在此元素的能谱位置前一个硅Ka的能谱距离多出一根小波峰而造成误判,但情形极少出现。如锡(Ka25.27Kev)-硅(Ka1.74Kev)=23.53Kev≈镉(Ka23.17 Kev)。

    3、加乘波峰

    由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在能谱两倍的位置上出现一根波峰。如大量的铁(Ka6.4Kev),会在能谱12.8Kev处出一根小波峰。造成误判。但此种情形极为少见。

产品型号:EDX 4500


产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg


专用分析软件

可根据被测物质材质自动切换模式(合金、塑料和混合物),以便量化化学计量方法得到测试精度

分析元素

标准数据包包含20种元素

标准元素

Pb, Cr, Hg, Br, Cd, Sb, Cl, P, Ti, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Bi, Sn, Ag.


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