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日本JIMA RT RC-02B分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡

深圳为尔康科技有限公司
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JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-02B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm
图案布局:L型
线/空间尺寸: 16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-05分辨率测试卡



测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm
芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm
图案布局:T型 (3-10μm)
I 型 (15-50μm)
线/空间尺寸:16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)



JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡



JIMA RT RC-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm
芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm
图案布局:T型
线/空间尺寸:32种规格图案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
JIMA分辨率测试卡,JIMA RT RC-02X射线分辨率测试卡
JIMA RT CT-01 分辨率测试卡(专用于三维CT系统分辨率测试)
测试卡封装在一个防护盒中
图案布局:T型
线/空间尺寸:5种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

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联系人:曾先生 手机

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