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维修Agilent N7788B 光元器件分析仪

维修Agilent N7788B 光元器件分析仪

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主要特性与技术指标

主要优势

  • 通过单次扫描实现精度: 无需通过多次扫描计算平均值

  • 高测量速度

  • 10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量(无需等待多个平均值)

  • 稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响

描述

是德制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制, 其专有技术可与著名的琼斯矩阵本征法(JME)相媲美,琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群时延(DGD)的标准方法。

是德新的单次扫描技术具有一系列优点,可用于测试全套参数:

  • DGD/ PMD

  • PDL

  • 功率/损耗

  • TE/TM 损耗

  • 二阶 PMD

  • 主偏振态(PSP)

  • 琼斯和米勒矩阵

用于生产车间的设计

高吞吐量: 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行全面分析!

软件驱动程序: 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。

远程控制: 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制, 实现自动操作和故障诊断。

报告生成: 支持生成 PDF 格式的报告。 用户可以配置所有的内容(包括版图)。

实时功率读数: 提供实时功率读数(支持新器件的光纤耦合),可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。

条形码扫描仪: 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。


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