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美国B W Tek光谱仪

美国B W Tek光谱仪

天津西纳智能科技有限公司
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美国B&W Tek光谱仪

品牌介绍:

B&W Tek成立于1997年,总部位于美国,是二极管激光器和二极管泵浦固态(DPSS)激光器的定制解决方案的生产商,已发展成为一家拥有光子激光器,光谱仪和化学计量学技术的高端公司,主要生产光谱学和激光仪器。我们的业务涵盖移动光谱解决方案,包括全系列的便携式拉曼和手持式拉曼系统,面向系统集成商的构件光谱仪和激光组件以及针对目标应用需求的定制解决方案。在工程,制造,生产和应用程序开发方面的能力可满足定制传感器,医学诊断,原材料分析等方面特定于应用程序的需求。

 

产品范围:

美国B&W Tek光谱仪、激光器、二极管激光器、激光仪器。

 

主要型号:

Exemplar Plus LS、FRC100、BFH105、BCH100A / BCH103A、R1010、R045、BDS130A、SCL101、BDS100、BPS101

 

应用:

生物医学、化学、安全和保障、医疗设备、研究和教育

 

相关产品介绍:

Exemplar Plus LS是一款高性能智能光谱仪,利用像差校正凹面全息光栅来很大程度地减少杂散光。其长焦距加上高量子效率检测器,可在整个190-1100nm光谱范围内提供卓越的数据质量。Exemplar Plus LS具有高信噪比,使其非常适合弱光应用,还具有内置快门,即使在照明条件下也可以进行暗扫描测量。作为Exemplar产品系列的成员,它具有板载数据处理和USB 3.0通信功能。Exemplar产品线还针对具有超低触发延迟和栅极抖动的多通道操作进行了优化。

标准光谱配置范围为180nm-1050nm,分辨率范围为0.6nm至6.0nm。自定义配置可用于OEM应用程序。

特征:

-车载处理,包括平均,平滑和暗补偿

-每秒以6.3ms的积分时间采集和传输140多个光谱

-支持多达32个具有超低触发延迟(95ns)和栅极抖动(+/- 20ns)的设备

技术指标:

-电源输入:5V DC @ 3.0A(max启动时)

-探测器类型:背面薄型CCD阵列

-波长范围:190nm-1100nm

-检测器像素格式:2048个有效检测器元件

-有效像素大小:14微米x〜0.9毫米

-光谱仪f /#:3.0

-光谱仪光学布局:凹面全息,像差校正,平场

-动态范围:50,000(典型值)

-数字化仪分辨率:16位或65,535:1

-资料传输速度:突发模式下积分时间为6.3ms时每秒> 140光谱

-触发延迟:95ns +/- 20ns(要求时序图)

-读出速度:> 400kHz

-整合时间:6.3ms,以1μs为增量可调

-辅助端口:外部触发,4个数字输出(2个带快门控制),2个数字输入,模拟输入,模拟输出和系统复位

-工作温度:5°C-35°C

-工作相对湿度:85%无冷凝

-CCD散热:默认值:环境温度为25oC时为0oC。

-重量:2.6磅

-尺寸图:7.0英寸x 4.25英寸x 2.68英寸(178毫米x 108毫米x 67毫米)

-电脑介面:USB 3.0 / 2.0

-操作系统:Windows:7、8(32位和64位)

应用范围:

-弱光紫外到近红外光谱

-拉曼和荧光光谱

-在线过程监控

-LCD显示量测

-生物医学光谱学

-煤气和水分析

-LED表征

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 



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