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老化设备、正博电子、电容老化设备

东莞市正博电子设备有限公司
所在地:广东 东莞
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在试验室内完整而地再现自然界存在的环境条件是可望而不可及的事情。但是,在一定的容差范围之内,人们完全可以正确而近似地模拟工程产品在使用、贮存、运输等过程中所经受的外界环境条件。这段话用工程的语言概括,就是“试验设备所创造的围绕被试产品周边的环境条件(含平台环境)应该满足产品试验规范 所规定的环境条件及其容差的要求”。如用于产品试验的温度箱不仅要满足国军标GJB150.3-86、GJB150.4-86中根据不同的均匀性和温度控制精度的要求。只有这样,才能保证在环境试验中环境条件的再现性。

    老化房就是针对高性能电子产品出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。


逻辑器件老化测试

逻辑器件老化测试是两类系统中难度的,这是因为逻辑产品具有多功能特性,而且器件上可能还没有选通信号引脚。为使一种老化测试系统适应所有类型的逻辑器件,必须要有大量的输入输出引线,这样系统才能生成多引脚器件通常所需的多种不同信号。老化系统还要有一个驱动板,作为每个信号通路的引脚驱动器,它一般采用较大的驱动电流以克服老化板的负载特性。


输出信号要确保能够对需作老化的任何器件类型进行处理。如果老化板加载有问题,可以将其分隔成两个或更多的信号区,但是这需要将驱动板上的信号线数量增加一倍。大多数并行输出信号利用专用逻辑、预编程EPROM、或可重编程及可下载SRAM产生,用SRAM的好处是可利用计算机重复编程而使老化系统适用于多种产品。

逻辑器件老化测试主要有两种实现方法:并行和串行,这指的是系统的输入或监测方式。一般来说所有逻辑器件测试系统都用并行方式把大量信号传给器件,但用这种方式进行监测却不能将老化板上的每一个器件分离出来。

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