惠普HP4274A电桥HP4274A
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频率范围:100Hz - 100KHz HP4274A
LCR电桥能快速测量电感L、电容C、电阻R、损耗因素D、品质因素Q、电导G、电纳B、电抗X和矢量阻抗|Z|及相位角θ,其频率范围从100Hz到100kHz共13个可选频率测试点。测试电压范围为1mV~5Vrms, 适应于电路设计、产品实验、质量检查多方面测量要求。HP4274A这种可变的测试信号为测量非线性阻抗元件,如电感和半导体器件带来很大方便。该仪表测量值用两部分4?数字单元显示,并可以把每10次测量值进行平均后以5?数字显示。
另外,它还提供测试元件时的信号电压和施加电流3位数显示,以便监视测试时的电压、电流情况。HP4274A该仪表的电容测试范围为0.01fF~1999.0mF(1毫微微法拉=10-15法法法拉),电感为0.001nH~1999.9H, 电阻和阻抗为0.001mΩ~19.999MΩ。所有测量精度为0.1%~10%, 这主要取决于测试信号的电压和频率。测量电路既可以用并联等效电路形式,也可以是串联等效电路形式。该仪表自动校准后,能使杂散电容减小到20pF,寄生电感减小到2000nH,电阻减小到0.5Ω,电导减小到5μs。
一、选择测试电路方式我们知道,阻抗元件能由其电阻性和电抗性以简单的串联或并联等效电路表示。4274A可由“CIRCUIT MODE”控制选择测量等效电路,也能自动根据测量范围和功能设置选择合理的并联或串联方式。并联和串联方式等效电路元件的测量参数值是彼此不相同的,其差别取决于被采样测量的损耗因数。如果没有串联电阻或并联电导存在,这两个等效电路是同等的。并联测量电路的采样值可通过公式(考虑损耗因数效果)转换成串联电路,见表1。通过推导证明,对于不同的损耗因数(D)值,用串联方式测出的值与用并联测得的有差别。但当值小于0.03时,串联与并联测得的值相等。