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X荧光镀层测厚仪天瑞Xray膜厚仪

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X荧光镀层测厚仪

型号:Thick800A 



标准配置
开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


技术指标

同时可以分析五层镀层。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg


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