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X射线无损镀层测厚仪、镀层测厚仪、天瑞仪器

X射线无损镀层测厚仪、镀层测厚仪、天瑞仪器

江苏天瑞仪器股份有限公司
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Thick800A电镀厚度测试仪

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。

由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。



性能特点

1、上照式 
2、测试组件可升降 
3、高精度移动平台
4、小准直器 
5、高分辨率探头
6、可视化操作 
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑 
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护

技术指标

元素分析范围从钠(Na)到铀(U)。 
一次可同时分析***多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1%。
长期工作稳定性为0.1%。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。


天瑞电镀层测厚仪器X-ray 光谱法:

适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。

本测量方法可同时测量三层覆盖层体系,或同时测量三层组分的厚度和成分。



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