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镀层厚度检测仪、THICK800A天瑞电镀层测厚仪、镀层厚度分析仪

镀层厚度检测仪、THICK800A天瑞电镀层测厚仪、镀层厚度分析仪

江苏天瑞仪器股份有限公司
所在地:江苏 苏州
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 操作天瑞仪器镀层测厚仪应当遵守仪器的操作规则,否则将会带来很多不必要的麻烦,下面内容介绍天瑞仪器镀层测厚仪的操作规则。
    1、边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
    2、表面清洁度:测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
    3、基体金属特性:对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
    4、读数次数:通常由于天瑞仪器镀层测厚仪的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
    5、曲率:不应在试件的弯曲表面上测量。
    6、基体金属厚度:检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。


型号:THICK600
分析范围: Ti-U,可分析3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)
测量时间:40秒(可根据实际情况调整)
探测器分辨率:(160±5)eV
光管高压:5-50kV
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
准直器:配置不同直径准直孔,***小孔径φ0.2mm
仪器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
仪器重量:30kg


X荧光分析仪器的种类

    现在X荧光分析仪器主要分为两大类,一是:波长色散X荧光光谱分析仪;二是:能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别,在对样品激发其元素的特征X射线时,两种仪器的设计原理是相同的,在对特征X射线进行探测时,波长波长色散X荧光光谱分析仪,是检测的特征X射线的波长,即,X射线的波长性;而能量色散X荧光分析仪器,检测的是特征X射线的能量,即,X射线的粒子性。两种仪器的设计结构,探测方法有很大的区别。天瑞公司生产的THICK系列X荧光光谱仪器,就是采用了能量色散的原理设计制造。



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